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    • 专利摘要:
    [課題]提供一種偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜，其藉由讓相對於寬度方向之配向主軸的傾斜為同一方向地收窄，來抑制相對於寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)變動，而能保證正交偏光(cross Nicols)檢查性並提升生產性。[解決手段]一種偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上。
    公开号:TW201318821A
    申请号:TW101131456
    申请日:2012-08-30
    公开日:2013-05-16
    发明作者:Kenji Hara；Takashi Kawakami；Katsuyuki Ueki
    申请人:Toray Industries；
    IPC主号:C08J5-00
    专利说明:
    偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜及使用其之積層體、以及偏光板之製造方法
    本發明係關於液晶顯示用途等構件中，適用於光學特性優良之偏光板的偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜，及其製造方法。
    近年，與過去顯示器之陰極射線管(CRT)相比，具有薄型輕量化、低消耗電力、高畫質化之優點的液晶顯示器(LCD)之需求急速擴大。特別是大畫面顯示器或達32吋以上之大畫面TV用途的LCD之需求正急速攀升。伴隨著LCD的大畫面化，為了即便在大畫面亦能充分確保亮度，而研究提高LCD之背光的亮度，或在LCD中組裝提升亮度之機能性薄膜等。
    此種高亮度型LCD中，由於亮度高而發生許多存在於顯示器中的小缺陷變成問題之情形。因此，在如偏光板、相位差板之具有光學特性的LCD之構成構件中，儘管使用在目前的LCD不成問題之大小的缺陷，也會變成問題。因此，對各光學構件來說，防止在製造步驟產生缺陷更形重要。另一方面，即便在如偏光板、相位差板之具有光學特性的LCD之構成構件中發生缺陷，亦能確實發現缺陷之檢查性的提升也變得同樣重要。
    偏光板的缺陷檢查一般係以正交偏光法目視檢查。此正交偏光法係讓2片偏光板的配向主軸正交作出暗場，把測定對象品夾在其間觀察透射光之方法。由於在正交偏光法中，若在偏光板中有雜質或缺陷便會以亮點顯現，藉由確認此亮點便可檢查缺陷。
    在此，在偏光板之製造步驟中，雙軸配向聚酯薄膜多使用作為用來把用於將偏光板貼合至其它構件之黏著劑賦予給偏光板之離型薄膜。而若此離型薄膜具光學異向性，則組合了偏光板、離型薄膜與黏著劑的構件便會產生漏光。此漏光會妨礙正交偏光法的檢查，容易產生漏掉混入的雜質或缺陷之錯誤。進一步若在離型薄膜中有光學缺陷，更會增加源自離型薄膜之光學缺陷的亮點，成為缺陷檢查的妨礙。目前已知離型薄膜中的雜質與表面的傷痕會成為缺陷檢查時的亮點。
    雙軸配向聚酯薄膜就容易薄膜化的點來說，在使用作為偏光板離型薄膜時是有利的。但是，如專利文獻1中所開示的，聚酯薄膜在進行拉伸時，相對於拉伸端部，中央部分較晚被拉伸而有彎曲(bowing)的現象產生。因此，雙軸配向聚酯薄膜變得有雙折射(相位差)。線性偏光若射入並穿透有雙折射(相位差)之雙軸配向聚酯薄膜，便會變成橢圓偏光。
    因此，將此種雙軸配向聚酯薄膜貼合於偏光板，即便讓偏光板正交，實質上也不會變成正交偏光的狀態。也就是說，即便將此種雙軸配向聚酯薄膜貼合於偏光板進行使用正交偏光法之偏光板缺陷檢查，在線性偏光射入時，受聚酯薄膜的雙折射的影響，也無法進行精確的缺陷檢查。
    面對此等課題，過去已進行了如專利文獻2~7所開示之改良利用正交偏光法之自動檢查器，及改善偏光板離型聚酯薄膜的配向主軸之傾斜(以下記為配向角)之方法等。 [先前技術文獻] [專利文獻]
    [專利文獻1]日本特公昭39-029214號公報
    [專利文獻2]日本特開2007-213016號公報
    [專利文獻3]日本特開2004-237451號公報
    [專利文獻4]日本特開2001-328159號公報
    [專利文獻5]日本特開2004-18588號公報
    [專利文獻6]日本特開2004-358742號公報
    [專利文獻7]日本特開2008-246685號公報
    作為利用正交偏光法之自動檢查器的改良，已知上述專利文獻2中所開示的缺陷檢查裝置。此缺陷檢查裝置係在光源與攝影機之間的光路上具有檢查用偏光濾光器。此缺陷檢查裝置中，藉由將檢查用偏光濾光器的相對角度位置適宜調整成，讓可見光在無缺陷的背景部分投入到攝影機的受光量為最小值，來抵銷薄膜的雙折射(相位差)。因此，此缺陷檢查裝置在正交偏光狀態下能檢查帶有偏光板之薄膜中的缺陷。
    然而，上述專利文獻2中的裝置於檢查在薄膜的寬度方向的配向角有變動之薄膜時，在寬度方向必須要有複數台的攝影機及檢查用偏光濾光器。依照本案發明人等的見解，在檢查於薄膜的寬度方向的配向角有變動之薄膜時，若僅將檢查用偏光濾光器的相對角度位置適宜調整成，讓可見光在無缺陷的背景部分投入到攝影機的受光量為最小值，則在每個攝影機位置，即，寬度方向，難以得到均衡之在無缺陷的背景部分的受光量。例如，在薄膜寬度方向，於薄膜端部與中央部分之在無缺陷的背景部分的受光量水準產生差別。因此，在檢查於薄膜的寬度方向的雙折射有變動之薄膜時，無法同時進行精確的缺陷檢查。
    此外，依照本案發明人等的見解，姑且不論帶來大光量變化之缺陷，在檢查帶來小光量變化之缺陷時，在正交偏光檢查時偏光板必須要配置成讓視野變暗，此時因對比差變得更小，也讓檢測變得更困難。
    此外，專利文獻7等提案，為了改善偏光板離型薄膜的檢查性，而於橫向拉伸後設置冷卻步驟，並藉由規定在冷卻步驟之冷卻溫度，讓配向角在跨5m寬的範圍在5度以下。
    然而，依照本發明人的研究，僅讓薄膜的配向角在5度以下，則在正交偏光檢查時將偏光板配置成視野最暗的情況下，對於僅帶來小光量變化的缺陷，因在無缺陷的背景部分的受光量有差，故會讓缺陷的檢測變困難。
    此外，在使用正交偏光法檢查使用於如32吋以上之大畫面TV用的偏光板時，在正交偏光下的反射光無論是過強或過弱，都會讓區別缺陷部及缺陷部以外之底彩(背景部分)的差異變難，而有檢查性降低的獨特問題點。而檢查對象的偏光板的大小若達32吋以上，由於其大小，不使用自動檢查裝置，而是以檢查員(人)來檢查者也不少，上述問題點在由檢查員(人)檢查時，會成為特大的問題。又，於在正交偏光下反射光過強或過弱，讓缺陷部與缺陷部以外的底彩(背景部分)之差異變得難以區別之情形，即便使用自動檢查裝置誤報也會變多，無法確保充分的檢查性。
    因此，本發明為解決上述課題，提供一種偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜，其對特別是使用於大畫面TV用的偏光板之正交偏光檢查性佳，並可提升生產性。
    為了解決上述課題而戮力研究的結果，發現具有下面特性者能解決上述課題，終而完成本發明。
    (1)一種偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上。
    (2)如(1)所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其薄膜之霧度值為7~13%。
    (3)如(1)或(2)所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其在150℃、30分鐘之條件下熱處理後，薄膜長度方向的熱收縮率為5~7%，薄膜寬度方向的熱收縮率為7~9%。
    (4)如(1)至(3)中任一項所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜為同一方向。
    (5)如(1)至(4)所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中薄膜長度方向的厚度不均係小於2.0μm。
    (6)如(1)至(5)中任一項所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中在長度方向之配向角變動(MD配向角不均)係小於1.5度。
    (7)如(1)至(6)中任一項所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其係採取自相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)在至少跨5m寬之範圍為3.7度以下之薄膜。
    (8)如(1)至(7)中任一項所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其係藉由依序具有以下步驟之方法製得：
    (步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟。
    (步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    (9)一種積層體，其係於寬度為1700mm以上之偏光片的至少一側上，設置如(1)至(8)中任一項所記載之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜而成。
    (10)一種偏光板之製造方法，其係自如(9)所記載之積層體剝離前述偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜。
    (11)一種雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其係如(1)至(8)中任一項所記載之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其依序具有以下步驟：
    (步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟。
    (步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    (12)一種雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其係相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上之雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其依序具有以下步驟：
    (步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟。
    (步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟。
    (步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    若依據本發明，即能提供一種偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜及其製造方法，該薄膜即使是收窄成讓相對於寬度方向之配向主軸之傾斜為同一方向，亦能抑制相對於寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動，正交偏光檢查性佳，且能提升生產性(產量)。[實施發明之形態]
    以下，進一步詳細說明本發明。能適用於本發明中的聚酯，只要是能經由分子配向變成高強度薄膜之聚酯即無特別限定，較佳以包含聚對酞酸乙二酯、聚2,6-萘二甲酸乙二酯為主。特佳為在價格上具優勢的聚對酞酸乙二酯。在使用聚對酞酸乙二酯之情形，作為對苯二甲酸乙二酯以外的聚酯共聚物成分，例如：二乙二醇、丙二醇、新戊二醇、聚乙二醇、對苯二甲醇、1,4-環己二甲醇等二醇成分；己二酸、癸二酸、鄰苯二甲酸、間苯二甲酸、間苯二甲酸5-磺酸鈉等二羧酸成分；偏苯三酸、均苯四酸等多官能二羧酸成分；對氧基乙氧基苯甲酸等，在不損害目的之薄膜物性的範圍內可使用。如此之聚酯可藉由例如下面所示之方法來製造，例如，一種製造方法，其藉由讓二羧酸成分與二醇成分作直接酯化反應後，將此反應的產物在減壓下加熱，一邊去除剩餘的二醇成分一邊進行聚縮合；或一種製造方法，其藉由使用二羧酸的二烷基酯來作為二羧酸成分，與二醇成分進行酯交換反應後，與上述同樣地進行來進行聚縮合等。此時，依需要可使用反應觸媒，例如：鹼金屬、鹼土金屬、錳、鈷、鋅、鍗、鍺、鈦化合物。上述聚酯的固有黏度較佳為0.4~0.9，更佳為0.5~0.7，進一步更佳為0.55~0.65。
    本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜係相對於寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)變動在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上者。而相對於薄膜寬度方向之配向主軸之傾斜較佳為同一方向。
    本發明中所稱配向角，係表示配向主軸的傾斜角度。配向角係讓超音波脈波跨全方位透過薄膜，藉由測定期傳播速度而可評價、測定配向性。又，配向角係定義為：在與薄膜寬度方向平行時為0度，相對於薄膜寬度方向為順時針旋轉的傾斜為+、逆時針旋轉為-。又，「相對於薄膜寬度方向之配向主軸之傾斜為同一方向」係定義為：收窄之薄膜的薄膜寬度方向兩端，在前述配向主軸之傾斜的測定中係顯示相同符號。雙軸配向聚酯薄膜中的配向主軸之傾斜，係由拉伸步驟至熱處理步驟時發生的彎曲現象產生。彎曲現象因係起因於在拉伸步驟至熱處理步驟內薄膜構成懸垂線(catenary-曲線)之現象，而在雙軸配向聚酯薄膜中，隨著從寬度方向中心往薄膜的寬度方向端部走，配向主軸之傾斜有增加的傾向。此外，從雙軸配向聚酯薄膜的寬度方向中心往寬度方向端部的2個方向，分別具有相反方向之配向主軸之傾斜。
    又，本發明中所稱配向角變動，係定義為如前述測定之薄膜內的任意位置之配向角的最大與最小的差。在配向角變動超過3.7度的情形，在檢查偏光板之正交偏光法中，因自偏光板產生漏光，而會有變成檢查之妨礙的情形。配向角變動更佳為在3.5度以內，進一步更佳為在3.2度以內。
    又，本發明之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，若係採取自相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)在至少跨5m寬的範圍為3.7度以下之薄膜，因可提高生產性而較佳。
    配向角變動係讓薄膜成為正交偏光狀態時，薄膜中無缺陷的正常部分之漏光量變動的要因。此漏光量變動能以後述之「(9)以正交偏光檢查器評價」中所示的正交偏光檢查器中的，在無缺陷的背景部分之受光量變動來確認。而若發生漏光量變動，依據薄膜的位置(依據配向角的變動)檢查性也會變化，而可能發生漏掉缺陷的情況。以下顯示其例子。
    關於使用正交偏光檢查器的缺陷檢測性與配向角變動的關係： [1]檢出測試1
    ‧樣本：具有於常溫加工聚酯薄膜時所產生的表面缺陷之聚酯薄膜。但是，此聚酯薄膜為小片，在薄膜面內幾乎沒有配向角變動。
    ‧測定裝置：後述之「(9)以正交偏光檢查器評價」中所示的正交偏光檢查器。
    ‧基線：正交偏光檢查器中，在檢查時，有必要訂出在無缺陷的背景部分之受光量的基線。因此，把在無缺陷的背景部分之受光量的基線(無缺陷的正常部分之漏光量)設在256灰階中10~30之範圍的測試設為測試1A，把在無缺陷的背景部分之受光量的基線設在256灰階中30~50之範圍的測試設為測試1B。其中，基線的調整係藉由受光手段側的第2偏光濾光器之角度，與設置於照明側之第1偏光濾光器角度雙方面調整來進行。
    ‧測試結果：以測試1A的條件檢查樣本時，於薄膜的表面缺陷部，在無缺陷的背景部分的受光量，顯示係自基線起約高40。另一方面，以測試1B的條件檢查同一樣本時，在薄膜的表面缺陷部，於無缺陷的背景部分的受光量，顯示係自基線起約高17。其中，在無缺陷的背景部分之受光量，顯示係自在無缺陷的背景部分之受光量的基線起越高，則檢查性越高(越銳敏)。測試結果示於圖1。圖1中，黑的部分顯示在無缺陷的背景部分的受光量小，白的部分顯示在無缺陷的背景部分的受光量大。
    ‧結論：由上述測試結果，顯示檢查性依照在無缺陷的背景部分之受光量的基線而改變。因此，若在聚酯薄膜的面內存在配向角之變動，因配向角隨薄膜的位置有變動，故在無缺陷的背景部分之受光量的基線也會改變。具體來說，即便在配向角0度之位置，把在無缺陷的背景部分之受光量的基線設定為20，在配向角為0度以外之位置，在無缺陷的背景部分之受光量的基線也會從20開始變化。而若在無缺陷的背景部分之受光量的基線改變，檢查性也會改變。 [2]檢出測試2
    ‧樣本：具有在聚酯薄膜製造時(特別是加熱拉伸時)產生的表面缺陷之聚酯薄膜。但是，但是，此聚酯薄膜為小片，在薄膜面內幾乎沒有配向角變動。
    ‧測定裝置：後述之「(9)以正交偏光檢查器評價」中所示的正交偏光檢查器。
    ‧基線：正交偏光檢查器中，在檢查時，有必要訂出在無缺陷的背景部分之受光量的基線。因此，把在無缺陷的背景部分之受光量的基線(無缺陷的正常部分之漏光量)設在256灰階中10~30之範圍的測試設為測試2A，把在無缺陷的背景部分之受光量的基線設在256灰階中30~50之範圍的測試設為測試2B。其中，基線的調整係藉由受光手段側的第2偏光濾光器之角度，與設置於照明側之第1偏光濾光器角度雙方面調整來進行。
    ‧測試結果：在以測試2A之條件檢查樣本時，在薄膜的表面缺陷部，於無缺陷的背景部分之受光量，顯示係自基線起約高80。另一方面，在以測試2B之條件檢查同一樣本時，在薄膜的表面缺陷部，於無缺陷的背景部分的受光量，顯示係自基線起約高70。另外，在測定表面缺陷的大小時，在測試2A之條件下觀察到大小為約0.475mm2，而在測試2A之條件下觀察到的大小為約0.588mm2。測試結果示於圖1。
    ‧結論：由上述測試結果，顯示檢查性(特別是顯示作為測定值之缺陷的大小)依照在無缺陷的背景部分之受光量的基線而改變。因此，若在聚酯薄膜的面內存在配向角之變動，在無缺陷的背景部分之受光量的基線也會依照薄膜的位置而改變。而若在無缺陷的背景部分之受光量的基線改變，則檢查性也會改變。
    從以上的認識可知，在無缺陷的背景部分之受光量變動越少，越可均化在薄膜面內的檢查性。因此，為了均化薄膜面內的檢查性，讓薄膜的配向角變動在3.7度以下係重要的。
    又，本發明之雙軸配向聚酯薄膜的相對於薄膜之長度方向的配向角變動(以下稱為MD配向角不均)較佳為1.5度以下。本發明中所稱MD配向角不均，係定義為：於薄膜長度方向每1000mm，測定10點在薄膜寬度方向兩端部的配向角，求取在每個薄膜端部之測定值的最大值與最小值的差之絕對值，該絕對值大者的值。
    若MD配向角不均大，因在薄膜長度方向，於正交偏光檢查器中，在無缺陷的背景部分之受光量發生變動，而較不佳。正交偏光檢查器中，若調整為正交偏光狀態時的配向角差異大，則正交偏光檢查器中在無缺陷的背景部分之受光量變動變大。因此，若抑制MD配向角不均，則可抑制正交偏光檢查器中在無缺陷的背景部分的受光量變動。MD配向角不均較佳為1.5度以下，更佳為1.2度以下，再更佳1.0度以下。
    由於在薄膜端部位置的配向角的絕對值越大，MD配向角不均有變得越大的傾向，故本發明之雙軸配向聚酯薄膜較佳以讓薄膜端部位置的配向角的絕對值變小的方式製膜。
    本發明之雙軸配向聚酯薄膜，其薄膜寬度必須至少在1700mm以上。如上所述，配向角因得自增加離相對於製膜之薄膜中心的距離之行為，故薄膜寬度變越大，抑制配向角及配向角之變動會變越困難。因此，過去薄膜寬度為1700mm以上的雙軸配向聚酯薄膜中，配向角的變動無法達3.7度以下。本發明之雙軸配向聚酯薄膜的薄膜寬度至少在1700mm以上，且因配向角的變動在3.7度以下，而可優選使用於大畫面(具體上為32吋以上)的LCD之偏光板的檢查用離型薄膜。薄膜寬度若在1900mm以上，因可適用於更大畫面用的LCD，且生產性變好而更佳。薄膜寬度的上限未特別限定，但從製造設備成本面來看，薄膜寬度較佳為10000mm以下。
    本發明之雙軸配向聚酯薄膜，其相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜較佳為同一方向。如上所述，雙軸配向聚酯薄膜中，隨著從寬度方向中心往薄膜的寬度方向端部移動，配向主軸的傾斜有增加的傾向。而從寬度方向中心面對寬度方向端部的2個方向中，分別具有相反方向之配向主軸的傾斜。因此，為了讓配向角之變動最小地收窄，以讓收窄之薄膜的寬度方向之中心，與收窄後薄膜的寬度方向之中心相同之方式進行收窄。然而，以此收窄僅有薄膜的寬度方向的中央部分採取為製品。為了改善生產性，必須以讓收窄後的薄膜的寬度方向兩端之配向主軸的傾斜為同一方向的方式進行收窄，但若以讓收窄後的薄膜的寬度方向兩端之配向主軸的傾斜為同一方向的方式進行收窄，則配向角的變動與MD配向角不均會有變大的傾向。本發明之雙軸配向聚酯薄膜，即便進行讓相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜為同一方向之收窄，因配向角的變動小，故還是能得到生產性佳、檢查性佳之雙軸配向聚酯。
    又，本發明之雙軸配向聚酯薄膜較佳係在以150℃、30分鐘之條件熱處理後，薄膜長度方向及薄膜寬度方向的熱收縮率分別為5~7%、7~9%。更佳分別為5.5~6.5%、7.5~8.5%。若熱收縮率超出前述範圍，因尺寸穩定性會惡化而不佳。熱收縮率能在熱處理中以鬆弛率與熱處理溫度來調整，而在讓配向角變動維持在3.7度以下的同時，為了邊維持作為偏光板離型用薄膜較佳的平面性，邊讓熱收縮率低於前述的下限範圍，因必須要例如在製膜後另外進行退火處理，因讓生產性、效率降低而較不佳。
    本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜中，薄膜的霧度值較佳為7~13%。更佳為8~12%，進一步更佳為9~11%。在霧度值小於7%之情形因在檢查偏光板時反射光過強，而在大於13%之情形因反射光過弱，而會有變成檢查的妨礙的情形。特別是在正交偏光下的反射光，無論反射光是強或弱，都會讓分辨缺陷部與底彩(背景部分)的差異變難。特別在以目視進行檢查時，會顯著受此影響。具體來說，在霧度低時反射光強，因底彩(背景部分)的亮度不均被強調出來，讓分辨缺陷部與底彩(背景部分)時變難，在霧度高時散射光強，讓缺陷部的亮點變不清楚，使檢測性變低。因此，為了提高缺陷檢查的檢查性，讓薄膜的霧度值在前述範圍係特別重要。藉由讓霧度值在前述範圍，即便作為檢查對象的偏光板之大小在32吋以上，亦可充分提升檢查性。
    本發明之薄膜可為單層，亦可為由2層以上所構成之複合薄膜，要讓薄膜的霧度值在上述範圍，特別適合由3層複合薄膜所構成者。在本發明之薄膜為3層複合薄膜時，可為構成薄膜表面之層(積層部)的聚合物組成、所含有的粒子種類與粒子含量不同的A/B/C之構成，亦可為聚合物組成、所含有的粒子種類與粒子含量係相同之組成的A/B/A之構成。構成薄膜表面之層(積層部)的聚合物組成與所含有的粒子種類或粒子含量係相同之組成的A/B/A之構成，在設備上簡易，從生產性來看亦較佳。此外，在以A/B/A之構成來作為3層複合薄膜之情形，於構成薄膜表面側的兩層之積層厚度在實質上相同的情形，因品質的設計容易而較佳。而構成薄膜表面之層(積層部)的厚度較佳為0.5~2.5μm，特佳為1.0~2.0μm。
    為了讓薄膜的霧度值在上述範圍，較佳使用讓薄膜含有惰性粒子之方法。在用3層複合薄膜作為本發明之薄膜的情形，若讓構成薄膜表面之層(積層部)與非構成薄膜表面之層(基層部)分別含有粒子，因可讓霧度值在所期望之範圍而較佳。所含有之惰性粒子的種類較佳使用：球狀二氧化矽、矽酸鋁、二氧化鈦、碳酸鈣等無機粒子，或其它有機系高分子粒子：交聯聚苯乙烯樹脂粒子、交聯矽氧樹脂粒子、交聯丙烯酸酯樹脂粒子、交聯苯乙烯-丙烯酸酯樹脂粒子、交聯聚酯粒子、聚醯亞胺粒子、三聚氰胺樹脂粒子等。可選用此等中的1種或2種以上。
    得到含有惰性粒子之薄膜的方法，可舉出：在聚酯的聚合步驟添加惰性粒子，製作含有惰性粒子之聚酯，以此作為原料進行製膜之方法，或聚合不含粒子的聚酯，在製膜階段邊讓聚酯與惰性粒子混合邊製膜之方法等。從抑制因粒子聚集而產生雜質的觀點來看，較佳為在聚酯的聚合步驟添加惰性粒子之方法。例如，在聚對酞酸乙二酯之情形，藉由調製二醇成分之乙二醇的含有惰性粒子之漿料，在聚縮合前的酯交換後、或酯化後的寡聚物階段，添加含有惰性粒子之漿料，接著繼續進行聚縮合反應，可得到含有惰性粒子之聚對酞酸乙二酯。
    又，添加前的惰性粒子之漿料依需要，可採用以砂磨機等分散處理、以離心沉澱處理分離粗大粒子，或進行高精度過濾，可讓粒徑分布均化，並可除去粗大粒子，有效減少薄膜的粗大突起。
    為了讓本發明之薄膜的霧度值在上述範圍，於3層複合薄膜之情形，在構成薄膜表面之層(積層部)，適合含有0.2~1.0重量%、進一步較佳為0.3~0.8重量%的平均粒徑為0.5~1.5μm、較佳為0.8~1.3μm之惰性粒子。同樣的，非構成薄膜表面之層(基層部)中若含有0.02~0.1重量%的平均粒徑0.5~1.5μm，較佳為0.8~1.3μm之惰性粒子，因可讓霧度值在上述範圍而較佳。又，構成薄膜表面之層(積層部)，及非構成薄膜表面之層(基層部)中所含有的惰性粒子種類若相同，因可簡化生產設備而較佳。
    本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜，在薄膜長度方向的厚度不均較佳係小於2.0μm，進一步更佳係0.5~1.5μm，特佳係0.5~1.2μm。本發明中所稱薄膜長度方向的厚度不均，係以後述之「(5)薄膜長度方向厚度不均」中所示方法所測定之值表示。在厚度不均大於1.5μm時，在檢查偏光板之正交偏光法中，自偏光板漏出的光的強度不均變強，而會有變成檢查之防愛的情形。特別是在厚度不均大於2.0μm的情形，多會發生拉伸不均，而由於拉伸不均會讓底彩(背景部分)無法變均勻，而會讓正交偏光檢查性顯著惡化，作為偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜來說較不佳。另一方面，為了製造厚度不均達0.5μm以下之薄膜，因會讓生產管理變複雜而不佳。
    又，本發明之薄膜的厚度較佳為25~70μm，更佳為30~50μm，進一步更佳為35~45μm。若薄膜的厚度在此範圍內，則薄膜的霧度值容易調整到上述範圍內，故較佳。
    本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜係藉由例如於縱向拉伸未拉伸薄膜，接著於橫向拉伸，經過冷卻步驟再熱處理而得，特別是為了抑制彎曲現象，並讓跨薄膜寬度1700mm以上之配向角的變動在3.7度以內，在冷卻步驟將薄膜溫度冷卻至25~45℃，且將冷卻步驟之薄膜的寬度收縮速度控制在0.1~20%/min後，加以熱處理係重要的。
    作為降低薄膜的配向角之方法，有如專利文獻7中所記載之在橫向拉伸後設置冷卻步驟，藉由規定在冷卻步驟的冷卻溫度來降低配向角之方法。此係藉由將橫向拉伸後的薄膜之溫度充分冷卻到薄膜之玻璃轉移溫度以下，來充分抑制彎曲現象來實現。然而，以上述方法，無法充分抑制薄膜寬度為如1700mm以上之寬度寬的薄膜之配向角的變動。本發明中藉由進一步在冷卻步驟控制薄膜的寬度收縮速度，而能以過去技術無法達成之程度來降低配向角，乃至發現可抑制收窄後之配向角變動。
    在製造本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜時，在拉伸後的冷卻步驟，藉由除了溫度外還控制寬度收縮速度，而可降低配向角之機制，推測係因：從橫向拉伸步驟至冷卻步驟，於降低薄膜溫度的過渡期，藉由控制寬度收縮速度，物理上的抑制橫向配向鬆弛，或於冷卻步驟物理上抑制緊跟著拉伸步驟之作用於薄膜的寬度收縮，而可超過過去充分抑制彎曲現象。
    在製造本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜時，於冷卻步驟之薄膜的寬度收縮速度較佳為0.1%~20%/min，更佳為0.2%~18%/min。在寬度收縮速度小於0.1%/min時，影響到抑制薄膜的寬度收縮產生的薄膜張力，製膜性變差，成為薄膜破裂等的原因。而若寬度收縮速度比20%/min快，抑制薄膜的寬度收縮所產生的配向鬆弛之效果變少，會讓彎曲現象之抑制變得不充分。
    其中，此處所示之冷卻步驟中，薄膜的寬度收縮速度V1(%/min)係在將經過橫向拉伸步驟後，進入冷卻步驟前當下的薄膜寬度設為W1(mm)，經過冷卻步驟後的薄膜寬度設為W2(mm)，通過冷卻步驟的時間設為T1(min)時，以式(1)所算出。
    V1=(W1-W2)/W1×1/T1 式(1)
    又，在製造本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜時，於冷卻步驟，讓薄膜經過能使溫度達降低之狀態的程度之時間係重要的。其理由推測如下。在如前述之冷卻步驟中，於進行寬度收縮時被認為發生了配向鬆弛，而推測為了藉由冷卻薄膜來停止配向鬆弛需要一定的時間。因此，通過冷卻步驟的時間若不充分，因無法抑制配向鬆弛，推測會讓抑制彎曲現象的效果變少。在製造本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜時，通過冷卻步驟之時間，較佳為10秒以上，更佳為15秒以上。通過冷卻步驟的時間之上限未特別限定，若在60秒以下因生產性佳而較佳。
    本發明之聚酯薄膜較佳以依序具有以下步驟之方法製得。
    (步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟；(步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    以下詳細說明各步驟。 ‧未拉伸薄膜之製作
    視需要乾燥用已知的方法所得到之聚酯，供給至擠出機，以過濾器過濾。因即使是小雜質也會構成薄膜缺陷，此過濾器中使用例如捕集95%以上的5μm以上之雜質的高精度之物係有效的。然後使用T型模等熔融擠出成片狀，使其在流延輥上冷卻固化，得到未拉伸薄膜。 ‧(步驟1)
    藉由在長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸前述未拉伸薄膜，得到單軸拉伸聚酯薄膜。對長度方向的拉伸，較佳為在90~130℃之拉伸溫度下1階段的、或分為多階段的拉伸。從抑制彎曲現象及薄膜長度方向的厚度不均之觀點來看，較佳拉伸溫度為100~120℃、拉伸倍率為3~4倍，從防止拉伸不均及破損的觀點來看，拉伸較佳分為2階段以上來進行。 ‧(步驟2)
    藉由於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸前述單軸拉伸聚酯薄膜，得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟。寬度方向的拉伸較佳係以90~130℃之拉伸溫度拉伸。若拉伸溫度比90℃低、拉伸倍率比6倍大，則薄膜容易破裂。更佳為拉伸溫度係100~120℃、拉伸倍率係4~5倍。
    又，為了縮小配向角變動，寬度方向的拉伸倍率，較佳係比長度方向的拉伸倍率還大。若縱向拉伸倍率比寬度方向拉伸倍率大，則薄膜內的分子配向有向長度方向側傾斜的傾向，會有難以抑制配向角變動的情形。
    在製造本發明之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜時，係在縱向拉伸後進行橫向拉伸。因為若在橫向拉伸後進行縱向拉伸，橫向拉伸後，雖然分子主要係向TD方向強烈配向，但之後若進行縱向拉伸則一樣會向MD方向配向，而造成配向角變動變大。 ‧(步驟3)
    藉由以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，來得到冷卻的聚酯薄膜。
    冷卻步驟中讓薄膜溫度在25~45℃，因可抑制寬度收縮所產生的橫向配向鬆弛，並抑制彎曲現象而較佳。更佳為30~40℃。冷卻步驟中，若薄膜溫度比45℃高，則影響到薄膜寬度收縮所產生的張力，讓製膜性變差，且有抑制橫向配向鬆弛之效果不充分的情形。冷卻步驟中把薄膜溫度冷卻至小於20℃，因會讓生產性變差而不佳。
    聚酯薄膜的冷卻方法，可舉出：進行熱處理之拉幅機的空氣冷卻方法、在熱處理區域的上下以鋁板等遮蔽板來阻隔熱風之空氣冷卻方法、使用輥的冷卻方法等。進行熱處理之拉幅機的空冷方法中，各區因在長度方向全部連在一起，因伴隨氣流等高溫空氣的自由流動而在薄膜上下與寬度方向產生溫度差，而有無法充分冷卻薄膜溫度的情形。在此情形，亦能以送進壓縮空氣等積極冷卻來對應。
    又，使用輥的冷卻方法中，使用之輥的支數與設定溫度，並非限制，但輥的支數較佳使用複數支來冷卻。使用輥的冷卻方法中，為了讓薄膜溫度在上述範圍，輥溫度較佳為20~45℃，進一步更佳為30~40℃。又，使用輥的冷卻方法，若將薄膜以夾輥對冷卻輥施加負重予以密著住，因能穩定進行冷卻而較佳。
    又，此冷卻步驟中，讓薄膜的寬度收縮速度在0.1~20%/min係重要的。在寬度收縮速度小於0.1%/min時，影響到抑制薄膜的寬度收縮所產生的薄膜張力，製膜性變差，成為薄膜破裂等的原因。而若寬度收縮速度比20%/min快，則抑制薄膜的寬度收縮所產生的配向鬆弛之效果變少，會有彎曲現象之抑制變不充分的情形。薄膜的寬度收縮速度進一步更佳為0.2~18%/min。
    又，通過冷卻步驟的時間，較佳為10秒以上，更佳為15秒以上。通過冷卻步驟的時間之上限未特別限定，若在60秒以下因生產性會變好而較佳。
    作為控制寬度收縮方向之方法，能以拉長冷卻步驟，設定從製膜速度到寬度收縮之速度等各種方法來實現。具體來說，能藉由拉幅機中的空氣冷卻方法，以夾子把持兩端，調整軌道寬度，來讓寬度收縮速度成為所期望的值。 ‧(步驟4)
    藉由以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，得到雙軸配向聚酯薄膜。在熱處理溫度小於180℃時，熱處理會不充分，要讓以150℃、30分鐘之條件熱處理後的薄膜長度方向及薄膜寬度方向的熱收縮率分別落入5~7%、7~9%之範圍會有困難。熱處理溫度若比230℃高，由於熱結晶化的配向發展，讓相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)的變動要落入3.7度以內會有困難。
    又，熱處理步驟中，薄膜上下的溫度差較佳為1~20℃、更佳為1~10℃、進一步更佳為1~5℃。若薄膜上下的溫度差比20℃大，則薄膜的寬度方向之物性，特別是機械特性或熱收縮率會有變不均勻的情形。又，上述熱處理中亦可依需要進行鬆弛處理。鬆弛處理可於寬度方向、長度方向中任一方向進行，亦可在寬度方向、長度方向同時進行，也可各自分別進行。相對於薄膜的全寬，鬆弛率較佳為1~20%，更佳為1~10%，對得到熱尺寸穩定性優良知薄膜來說係有效的。
    本發明之聚酯薄膜能適用作為大尺寸的偏光板之離型用薄膜。具體來說，較佳按以下態樣使用。
    首先，將本發明之聚酯薄膜設置於寬度為1700mm以上的偏光片的至少一側，作為積層體。此處，積層體較佳為以「本發明之聚酯薄膜/黏著層A/偏光片/黏著層B/保護片」的順序設置而成的積層體，更佳為以「本發明之聚酯薄膜/矽氧層/黏著層A/偏光片/黏著層B/保護片」的順序設置而成的積層體。其中，矽氧層、黏著層、偏光片、保護片可使用已知的材料。
    接下來，進行積層體之檢查。該積層體因使用本發明之聚酯薄膜，而可得到良好的檢查性。之後，自積層體剝離本發明之聚酯薄膜，得到偏光板。此處，偏光板係指至少具有偏光片的構件，例如，若自「本發明之聚酯薄膜/黏著層A/偏光片/黏著層B/保護片」或「本發明之聚酯薄膜/矽氧層/黏著層A/偏光片/黏著層B/保護片」(積層體)剝離(除去)本發明之聚酯薄膜，便會得到以「黏著層A/偏光片/黏著層B/保護片」的順序設置而成之偏光板。其中，矽氧層較佳與本發明之聚酯薄膜一起被剝離。 [實施例]
    實施例及比較例中特性值的測定方法係如下述。 (1)薄膜寬度
    將測定對象之薄膜於台座上展開，以角尺(JIS1級)測定寬度。 (2)配向主軸之傾斜(配向角)、配向角變動
    使用野村商事製作之配向性測定機(SST-4000)進行測定。測定從相對於成為試料之薄膜的寬之兩端部裁切出A4大小的樣本之中點(105mm)，配向主軸與薄膜寬度方向平行時之配向角為0度，相對於薄膜寬度方向為順時針旋轉的傾斜設為+、逆時針旋轉設為-，取其絕對值為測定結果。
    配向角變動係收窄為採取對象後，取最大值與最小值的差之絕對值為測定結果。 (3)薄膜的霧度值
    依照JIS K7105(1981)，把裁切成薄膜長度方向4cm×薄膜寬度方向3.5cm之尺寸之物作為樣本，使用霧度計(Suga試驗機製HGM-2DP(C光用))測定。相對於薄膜寬度方向平均的測定3點，取其平均值為測定結果。 (4)熱收縮率
    於薄膜表面拉出寬10mm、測定長度約100mm的2條線，在23℃測定之這2條線間的距離，設為L0。將此薄膜樣本在1.5g的負重下放入150℃的烤箱中30分鐘後，再次在23℃測定這2條線間的距離，將其設為L1，以下式求取熱收縮率。
    熱收縮率(%)={(L0-L1)/L0}×100
    對薄膜的長度方向及寬度方向分別進行3處測定，求取平均值。 (5)薄膜長度方向之厚度不均
    使用安立電氣製薄膜厚度連續測定器，於長度方向測定15m，由所記録之薄膜厚度表，取最大厚度與最小厚度的差作為測定之厚度不均(μm)。測定條件如下述。
    構成：K-306C廣範圍電子比較儀、K-310C紀錄器、薄膜運送裝置
    檢出器：3R紅寶石端子、測定力：15g±5g
    薄膜寬度：45mm、測定長度：15m、薄膜運送速度：3m/分鐘。 (6)薄膜厚度
    依照JIS C2151(1990)，使用測微計(MITOTOYO OMM-25)相對於薄膜寬度方向平均測定30點，取其平均值為測定結果。 (7)薄膜溫度
    使用手持式放射溫度計(CHINO股份有限公司製IR-TA)測定薄膜溫度。相對於薄膜寬度方向平均地測定3點，取其平均值為測定結果。高度(Z方向)放大倍率：5萬倍。 (8)以目視檢查
    於光源(光箱)上放置2片偏光板，將聚酯薄膜置入其間，讓2片偏光板成為讓薄膜全體為正交偏光狀態之狀態，進行目視檢查，標示出薄膜表面的缺陷。檢查係由2人進行交叉比對，確認有無漏掉缺陷，按以下判斷基準來評價。
    ◎：因係對目視檢查良好之底彩(背景部分)，幾乎不會漏掉缺陷地完成檢查。
    ○：進入視野之底彩(背景部分)的光稍強或稍弱，在每個位置存在些許光量不均，若持續檢查2小時左右，則會感到疲勞感，而漏掉一些缺陷。
    △：進入視野之底彩(背景部分)的光稍強或稍弱，在每個位置存在光量不均，若持續檢查1小時左右，則疲勞感增強，而漏掉一些缺陷。
    ×：因進入視野之底彩(背景部分)的光過強或過弱，在每個位置明確存在光量不均，若持續檢查1小時左右，則疲勞感增強，而漏掉許多缺陷。 (9)以正交偏光檢查器評價：在無缺陷的背景部分之受光量變動
    本發明中，作為評價正交偏光檢查性之機器，使用：設置作為照明手段之250W的金屬鹵化物燈(MEJIRO PRECISION製BMH-250A)及能調整角度之第1偏光板，並組合作為受光手段之解析度25μm之CCD攝影機(DALSA製P3-80-8K-40)及能調整角度之第2偏光板，且加以配置複數組而成的正交偏光檢查器。裝置的概要示於圖2。
    此檢查器中，如圖2所示，光自照明手段4經過第1偏光板，射入、穿透檢查對象之薄膜1，經過第2偏光板於受光手段5被拍攝，輸出至信號處理手段6。
    在無基底缺陷的背景部分之受光量變動的評價，係將受光手段側的第2偏光板的角度一律固定作為基準，調整設置於照明側之第1偏光板角度，將在測定寬度所採取之薄膜作為檢查對象，在以256灰階評價在檢查全寬之在無缺陷的背景部分的受光量時的平均值為最小之狀態下，確認在無缺陷的背景部分之受光量的最大值與最小值的差，以此差來評價在無缺陷的背景部分之受光量變動。 (10)以自動檢查裝置檢查
    使用在(9)以正交偏光檢查器評價中所用的檢查裝置，把攝影機的檢測敏感度設為定值，檢查薄膜10m。確認此時的檢查性，並依以下判斷基準評價。
    ○：未發生因多起誤報而停止檢查地完成檢查。以目視對檢查後之薄膜作正交偏光檢查，但幾乎無法確認有檢查器漏掉處。
    □：未發生因多起誤報而停止檢查地完成檢查。在以目視對檢查後之薄膜作正交偏光檢查時，確認到幾個檢查器未檢測出的缺陷。
    △：自檢查開始起10m以內發生多起誤報而停止檢查。
    ×：自檢查開始起不到1m即發生多起誤報而停止檢查。 (11)MD配向角不均
    以與(2)配向主軸之傾斜(配向角)相同的手法進行測定。在薄膜兩端部位置，於長度方向每1000mm測定10點的配向角。求取在每個薄膜端部之測定值的最大值與最小值的差之絕對值，以絕對值大者的值來作為MD配向角不均的測定結果。
    以下，藉由實施例詳細說明本發明。 實施例1：
    於100質量份的對酞酸二甲酯(DMT)添加61重量份(對1莫耳DMT為1.9莫耳)之乙二醇、0.05質量份的乙酸鎂四水合物、及0.015質量份的磷酸，加熱，進行酯交換，接著繼續添加0.025質量份的三氧化二鍗，加熱升溫，在真空化下進行聚縮合反應，得到實質上不含有粒子之固有黏度為0.63的聚酯團塊。
    接下來，準備真比重2.71g/cm3、平均粒徑1.0μm之碳酸鈣，製作10重量%之乙二醇漿料。以噴射攪拌器對此漿料進行一小時分散處理，以5μm以上之捕集效率95%的過濾器作高精度過濾。在酯交換後添加此漿料，然後繼續進行與上述相同的聚縮合反應，得到含有1%平均粒徑1.0μm之碳酸鈣，且固有黏度為0.63之含有碳酸鈣的母料。
    接下來，混合含有碳酸鈣之母料及不含粒子之聚酯團塊，得到含有0.5重量%的碳酸鈣之聚酯A、含有0.054重量%的碳酸鈣之聚酯B。
    讓此等聚酯A、B分別在160℃下減壓乾燥8小時後，分別供給至擠出機，在275℃下熔融擠出，以5μm以上之捕集效率95%的高精度過濾器過濾後，以矩形的3層用合流塊合流積層，成為由聚酯A/聚酯B/聚酯A所構成之3層積層。然後，通過保持在285℃之狹縫模，使用靜電流延法於表面溫度25℃的流延輥上冷卻固化，得到未拉伸薄膜。首先，以加熱至103℃之輥與輻射加熱器，將此未拉伸薄膜在長度方向拉伸3.4倍。接著以拉幅機在105℃於寬度方向拉伸至4.4倍。然後，以讓在冷卻步驟之寬度收縮速度為18%/min之方式冷卻至薄膜溫度為35℃。此冷卻步驟採用輥式，輥的溫度設為30℃，通過冷卻步驟的時間設為15秒。接下來在190℃進行熱處理，捲取總薄膜厚度為38μm、薄膜的積層厚度為聚酯A/聚酯B/聚酯A=1.5μm/35μm/1.5μm、且薄膜寬度為5.1m之由3層所構成之雙軸配向聚酯薄膜，製成中間製品捲。由所得到之中間製品捲採取樣本，對寬度方向5m測定配向角時，最大值為3.6度。接著，以包含薄膜端部的方式，將所得到之中間製品捲切成表1所記載之評價捲採取寬度的2000mm，製作包含薄膜端部之寬度2000mm的評價用捲。製成之評價用捲其配向主軸的傾斜係同一方向。接著對評價捲進行薄膜特性之評價，所得結果示於表1。 實施例2~12、比較例1~4：
    除了改變拉伸條件、冷卻條件、熱處理溫度、冷卻步驟的寬度收縮速度、採取寬度等製膜條件以外，以與實施例1相同之方式實施，得到由3層所構成之雙軸配向聚酯薄膜。所得結果示於表1-1、表1-2。

    由上述實施例、比較例可確認以下事項。
    亦即，藉由採取本發明之態樣(特別是讓相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動在3.7度以內，再加上讓薄膜的霧度值為7~13%)，因可減低正交偏光檢查器中在無缺陷的背景部分之受光量變動，故即便以自動檢查裝置檢查，也可讓漏掉缺陷、誤報等情形變少。而即便在以目視檢查之情形，因底彩(背景部分)的光變得不會過強或過弱，而讓漏掉缺陷的情形變少，可確認提升檢查性。 [產業上之可利用性]
    本發明之薄膜因具有優良的正交偏光檢查性，故可適用於偏光板離型用途。
    1‧‧‧檢查對象薄膜
    2‧‧‧第1偏光濾光器
    3‧‧‧第2偏光濾光器
    4‧‧‧照明手段
    5‧‧‧受光手段
    6‧‧‧信號處理手段
    圖1為以正交偏光檢查器進行檢出測試時的影像(薄膜面內的影像)。
    圖2為在本發明中評價薄膜之檢查性的正交偏光檢查器之示意圖。
    权利要求:
    Claims (12)
    [1] 一種偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動(variation)在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上。
    [2] 如申請專利範圍第1項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其薄膜之霧度值為7~13%。
    [3] 如申請專利範圍第1或2項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其在150℃、30分鐘之條件下熱處理後，薄膜長度方向的熱收縮率為5~7%，薄膜寬度方向的熱收縮率為7~9%。
    [4] 如申請專利範圍第1至3項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜為同一方向。
    [5] 如申請專利範圍第1至4項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中薄膜長度方向的厚度不均係小於2.0μm。
    [6] 如申請專利範圍第1至5項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其中在長度方向之配向角變動(MD配向角不均)係小於1.5度。
    [7] 如申請專利範圍第1至6項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其係採取自相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)在至少跨5m寬之範圍為3.7度以下之薄膜。
    [8] 如申請專利範圍第1至7項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜，其係藉由依序具有以下步驟之方法製得：(步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟；(步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    [9] 一種積層體，其係於寬度為1700mm以上之偏光片的至少一側上，設置如申請專利範圍第1至8項中任一項之偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜而成。
    [10] 一種偏光板之製造方法，其係自如申請專利範圍第9項之積層體剝離前述偏光板離型用雙軸配向聚酯薄膜。
    [11] 一種雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其係如申請專利範圍第1至8項中任一項之偏光板離型薄膜用雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其依序具有以下步驟：(步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟；(步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
    [12] 一種雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其係相對於薄膜寬度方向之配向主軸的傾斜角度(配向角)之變動在3.7度以內，且薄膜寬度為1700mm以上之雙軸配向聚酯薄膜之製造方法，其依序具有以下步驟：(步驟1)於長度方向以2.5~5倍之拉伸倍率拉伸未拉伸聚酯薄膜，而得到單軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟2)於寬度方向以3~6倍之拉伸倍率前述單軸拉伸聚酯薄膜，且以寬度方向的拉伸倍率比長度方向的拉伸倍率大之拉伸倍率來拉伸，而得到雙軸拉伸聚酯薄膜之步驟；(步驟3)以讓薄膜的寬度收縮速度為0.1~20%/min之方式將前述雙軸拉伸聚酯薄膜冷卻至薄膜溫度在25~45℃，而得到冷卻的聚酯薄膜之步驟；(步驟4)以180~230℃之熱處理溫度對前述冷卻的聚酯薄膜作熱處理，而得到雙軸配向聚酯薄膜之步驟。
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